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产品名称:奥林巴斯清洁度

产品型号:CIX100

产品报价:

产品特点:奥林巴斯清洁度CIX100系统通过完整检测流程实现性能和生产率的提升,该产品专为方便各种经验水平的检测员进行清洁度检测而设计。
软件可提供完整清洁度检测流程的分步指导。
直观的工作流可提高生产效率及对检测结果的信心,同时缩短检测周期,减少每次检测的成本以及操作失误。最终获得能够最大限度确保满足高质量标准的检测系统。

CIX100奥林巴斯清洁度的详细资料:

1、奥林巴斯清洁度使用偏振光确认磨屑颗粒的优势

合适的软件使用户能够轻松地区分金属和非金属颗粒。

很多国际标准,包括ISO 16232ISO 4407,以及公司内部标准,都要求能够按照各种参数来区分磨屑颗粒。尤其重要的是区分金属与非金属颗粒。通过显微镜和清洁度分析软件,技术人员就能够有效地使用偏振光来区分金属和非金属颗粒,从而确定某个机械部件是否最终已经过度磨损或失效。

2、奥林巴斯清洁度械部件性能中磨屑颗粒分析的重要性

很多机械部件生产厂商面临的问题是这些在部件生产加工后的颗粒残留,或者是部件服役一段时间后而残留的磨屑颗粒。残留的磨屑颗粒尺寸大小可以从µm1000 µm不等,并可能影响机械部件的运行,还可能随时间的推移加速部件的磨损。怎样才能确定是否存在磨屑颗粒呢?

金属颗粒示例:钢铁、氧化铝、铸铁等。

 

3、奥林巴斯清洁度软件怎样才能精确地进行颗粒分析

现在的软件能够使操作者对直径45 mm的整个标准滤片进行颗粒的分析。特别是在偏振光照明时,滤片上的反光颗粒会被标记为金属,并与不反光的颗粒区别开来。

传统双扫描法

到目前为止,颗粒分析的数据需要对滤片进行两次扫描才能获得。正交偏振光照明时,首次扫描滤片确认总的颗粒数(所有的颗粒都呈暗黑色)。非偏振光照明时,二次扫描滤片区分反光和非反光颗粒。

单扫描专利技术

   CIX100清洁度分析系统

奥林巴斯清洁度CIX100分析系统,采用了创新的偏振光方法,其独特的一体式扫描技术,单次扫描即可探测到反光(闪亮的和金属光泽的)和非反光(暗黑的或非金属光泽的)的颗粒。

 

这种单次扫描技术基于波长分离和颜色探测,能够提供非常精确的结果,检测量可提高一倍。

 

电动扫描台上的滤纸经自动扫描后,探测的数据结果可保存到数据库做为永久记录。由于这种技术符合国际标准(比如ISO 16232和ISO 4407),以及/或公司标准,因此全球的机械部件生产厂商都已开始采用这种解决方案。

清洁度分析软件和重型装备制造

上述磨屑颗粒分析,尤其是判定金属与非金属颗粒,在汽车制造行业,以及重型装备制造行业中尤其重要。它被用来确定是否存在污染物,以及是什么样的污染物,并在生产过程中加强控制和维护。


 

部件的清洁度检测是制造过程中的核心,特别是在汽车和航空工业中。

这里所说的软件还可以用于分析流过机械部件的液压流体、油和其它流体,以帮助确定这些流体中是否存在颗粒,以及它们对产品性能、摩擦、传导和腐蚀的影响(软件通常会集成到整个流体污染控制与调节系统里)。最终,为了同一个目的—— 延长机械部件的使用寿命。

本文作者:Jennifer Wrigley

工业显微镜高级产品经理,已在奥林巴斯任职10余年,负责工业显微镜在美国地区的销售。对技术清洁及半导体设备有所研究。

 

 

 

 

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